多功能表面污染監(jiān)測儀的操作測量方法涵蓋直接測量、間接測量兩種核心方式，需結(jié)合校準(zhǔn)、參數(shù)設(shè)置、環(huán)境控制等步驟確保測量準(zhǔn)確性，具體如下：
一、直接測量法
適用場景：可直接接觸或靠近被測表面，且無強(qiáng)干擾源（如電磁輻射、高本底輻射）的環(huán)境。
操作步驟：
環(huán)境準(zhǔn)備
確認(rèn)監(jiān)測區(qū)域安全，設(shè)置警戒線或警示標(biāo)識(shí)，穿戴防護(hù)服、手套及劑量計(jì)。
檢查環(huán)境光照條件，避免強(qiáng)光源直射儀器（如陽光直射、強(qiáng)燈光），防止光學(xué)干擾。
確保環(huán)境溫度在儀器工作范圍內(nèi)（通常為-10℃至+40℃），濕度≤85%，無顯著振動(dòng)或磁場干擾。
儀器檢查與校準(zhǔn)
外觀檢查：確認(rèn)儀器外殼完好，液晶屏無破損，按鍵靈敏，探頭連接牢固。
電池電量：開機(jī)后確認(rèn)電量≥80%，不足時(shí)更換電池或接駁外接電源。
探頭狀態(tài)：檢查α、β探頭窗口無裂痕、污染，用酒精棉片輕拭表面。
本底測量：將儀器置于待測區(qū)域附近（距離污染源≥1m），開機(jī)預(yù)熱5分鐘，進(jìn)入“本底測量”模式，探頭垂直指向空氣，連續(xù)測量3次，取平均值記錄（如α本底=0.02cps，β本底=0.15cps）。
標(biāo)準(zhǔn)源校準(zhǔn)：
調(diào)取儀器內(nèi)置校準(zhǔn)程序，選擇對(duì)應(yīng)放射源類型（α/β）。
將標(biāo)準(zhǔn)源（如²?¹Amα源、??Sr-??Yβ源）貼近探頭（距離≤5mm），啟動(dòng)自動(dòng)校準(zhǔn)。
調(diào)節(jié)閾值至標(biāo)準(zhǔn)源特征峰位（如α峰位約5.48MeV，β譜區(qū)0.5-2.2MeV），保存校準(zhǔn)參數(shù)，誤差范圍控制在±10%以內(nèi)。
參數(shù)設(shè)置
測量模式：
快速篩查：靈敏度優(yōu)先，量程0-1000cps，測量時(shí)間10秒/點(diǎn)，適用于大面積初步掃描。
定量分析：精度優(yōu)先，量程0-100cps，測量時(shí)間60秒/點(diǎn)，適用于精確測量污染水平。
報(bào)警閾值：默認(rèn)α≥0.5Bq/cm²，β≥5Bq/cm²，可根據(jù)實(shí)際需求調(diào)整。
測量路徑：
網(wǎng)格法：按10cm×10cm劃分監(jiān)測區(qū)域，探頭中心對(duì)準(zhǔn)網(wǎng)格交點(diǎn)，確保覆蓋全面。
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